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        公司新聞每一個設計作品都舉世無雙

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        九月,與澤攸科技相約在悉尼

        日期:2018-08-15

               掃描電鏡在悉尼展會

              International Microscopy Congress (IMC) 被譽為"顯微鏡領域的奧林匹克",每四年舉辦一次。會議匯聚了一批透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡(含掃描隧道顯微鏡,原子力顯微鏡等)和激光共聚焦顯微鏡等顯微分析領域專家,將圍繞顯微分析儀器在物理學、材料科學、納米科技、生命科學、化學化工、環境科學、地學等領域中的基礎和應用研究成果展開深入交流。會議還將邀請相關儀器設備的廠商做發展介紹及產品展示。

               今年9月9日,會議將在風景秀麗的澳大利亞悉尼舉辦。屆時,澤攸科技將攜原位電子顯微鏡產品參會。作為參會的中國廠家,澤攸科技將向世界展示科學儀器領域的中國制造。

        想了解更多細節可發送郵件至support@zeptools.com詳詢。公眾號也會不斷更新各種產品的研究案例。

         


         

        安徽澤攸科技有限公司

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        作者:小攸


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