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        透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)測試常見問題總結

        日期:2021-03-23

        透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)測試常見問題總結,很多人在用透射電鏡TEM或掃描電鏡SEM測試的時候經常會遇到一些問題,希望澤攸小編總結的這20個常見問題可以幫到你。
         
        1、做透射電鏡TEM測試時樣品的厚度Z厚是多少?
         
        透射電鏡TEM的樣品厚度Z好小于100nm,太厚了電子束不易透過,分析效果不好。
         
        2、請問樣品的的穿晶斷裂和沿晶斷裂在掃描電鏡SEM圖片上有各有什么明顯的特征?
         
        在掃描電鏡SEM圖片中,沿晶斷裂可以清楚地看到裂紋是沿著晶界展開,且晶粒晶界明顯;穿晶斷裂則是裂紋在晶粒中展開,晶粒晶界都較模糊。
         
        3、做透射電鏡TEM測試時樣品有什么要求?
         
        很簡單,只要不含水分就行。如果樣品為溶液,則樣品需要滴在一定的基板上(如玻璃),然后干燥,再噴碳就可以了。如果樣品本身導電就無需噴碳。
         
        4、水溶液中的納米粒子如何做透射電鏡TEM?
         
        透射電鏡樣品一定要在高真空中下檢測,水溶液中的納米粒子不能直接測。一般用一個微柵或銅網,把樣品撈起來,然后放在樣品預抽器中,烘干即可放入電鏡里面測試。 如果樣品的尺寸很小,只有幾個納米,選用無孔的碳膜來撈樣品即可。
         
        5、粉末狀樣品怎么做透射電鏡TEM?
         
        掃描電鏡測試中粉末樣品的制備多采用雙面膠干法制樣,和選用合適的溶液超聲波濕法制樣。分散劑在掃描電鏡的樣品制備中效果并不明顯,有時會帶來相反的作用,如干燥時析晶等。
         
        6、EDS與XPS測試時采樣深度的差別?
         
        XPS采樣深度為2-5nm,我想知道EDS采樣深度大約1um、
         
        7、能譜,有的叫EDS,也有的叫EDX,到底哪個更合適一些?
         
        能譜的全稱是:Energy-dispersive X-ray spectroscopy 國際標準化術語: EDS-能譜儀 EDX-能譜學
         
        8、TEM用銅網的孔洞尺寸多大?
         
        撈粉體常用的有碳支持膜和小孔微柵,小孔微柵上其實也有一層超薄的碳膜。拍高分辨的,試樣的厚度要控制在20 nm以下,所以一般直徑小于20nm的粉體才直接撈,顆粒再大的話Z 好是包埋后離子減薄。
         
        9、在透射電鏡TEM上觀察到納米晶,在納米晶的周圍有非晶態的區域,我想對非晶態的區域升溫或者給予一定的電壓(電流),使其發生變化,原位觀察起變化情況?
         
        用原子力顯微鏡應該可以解決這個問題。
         
        10、Mg-Al合金怎么做SEM,二次電子的?
         
        這種樣品的正確測法應該是先拋光,再腐蝕。若有蒸發現象,可以在樣品表面渡上一層金。 11、陶瓷的透射電鏡TEM試樣要怎么制作?
         
        切片、打磨、離子減薄、FIB。
         
        12、透射電子顯微鏡在高分子材料研究中的應用方面的資料?
         
        殷敬華 莫志深 主編 《現代高分子物理學》(下冊) 北京:科學出版社,2001[第十八章 電子顯微鏡在聚合物結構研究中的應用]
         
        13、透射電鏡中的微衍射和選區衍射有何區別?
         
        區別就是電子束斑的大小。選區衍射束斑大約有50微米以上,束斑是微米級就是微衍射。微衍射主要用于鑒定一些小的相
         
        14、掃描電鏡SEM如何看氧化層的厚度?
         
        通過掃描電鏡看試樣氧化層的厚度,直接掰開看斷面,這樣準確嗎? 通過掃描電鏡看試樣氧化層的厚度,如果是玻璃或陶瓷這樣直接掰開看斷面是可以的;如果是金屬材料可能在切割時,樣品結構發生變化就不行了,所以要看是什么材料的氧化層。
         
        15、透射電鏡TEM對微晶玻璃的制樣要求
         
        先磨薄片厚度小于500um,再到中心透射電鏡制樣室進行釘薄,然后離子減薄。
         
        16、電子能量損失譜由哪幾部分組成?
         
        EELS和HREELS是不同的系統。前者一般配合高分辨透射電鏡使用,而且是場發射槍和能量過濾器。一般分辨率能達到0、1eV-1eV,主要用于得到元素的含量,尤其是輕元素的含量。而且能夠輕易得到相應樣品區域的厚度。而HREELS是一種高真空的單獨設備,可以研究氣體分子在固體表面的吸附和解離狀態。
         
        17、研究表面活性劑形成的囊泡,很多文獻都用cryoTEM做,形態的確很清晰,但所里只能作負染,能很好的看出囊泡的壁嗎?
         
        高分子樣品在電子束下結構容易破壞,用冷凍臺是比較好的方式。做負染是可以看到壁的輪廓,但是如果要細致觀察,沒有冷凍臺大概不行吧?我看過的高分子樣品都是看看輪廓就已經很滿意了,從來沒有提到過更高要求的。
         
        18、hkl、hkl指的是什么?
         
        (hkl)表示晶面指數{hkl}表示晶面族指數 [hkl]表示晶向指數 表示晶向族指數 (h,k,-h-k,l)六方晶系的坐標表示法林海無邊
         
        19、電鏡測試中調高放大倍數后,光斑亮度及大小會怎樣變化?
         
        變暗,因為物鏡強了,焦距小了,所以一部分電流被遮擋住了,而亮度是和電流成正比的。由于總光束的強度是一定的,取放大倍率偏大則通過透鏡的電子束少,反則電子束大。調節brightness就是把有限的光聚在一起。
         
        20、氧化鋁透射電鏡TEM選取什么模式?

        氧化鋁用lowdose模式,這樣才會盡量不破壞晶體結構。

        ZEM臺式掃描電鏡
        ZEM臺式掃描電鏡

         
        以上就是澤攸科技小編總結的20個透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)測試常見問題,想要了解透射電鏡TEM和掃描電鏡SEM產品直接聯系我們18817557412(微信同號)

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        作者:小攸


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