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        SEM原位解決方案每一個設計作品都舉世無雙

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        《Nano Lett》:澤攸科技樣品桿應用于CNTs缺陷調控

        日期:2018-08-15

           年前,小編報道的公司產品在納米原位焊接中的應用在《Nature Communications》上發表的消息,獲得了不錯的反響。小編又挑選整理了20篇比較有代表性和特色的研究成果,今年將陸續和大家分享,大家記得關注小攸,不要走丟哦~往期文章也可在公眾號中選擇"往期文章"按鈕查閱。


          碳納米管(CNTs)中往往不可避免地存在結構缺陷。這些結構缺陷不僅會破壞晶格結構的完整性,還有可能嚴重影響碳納米管的機械性能。但從另一個角度看,刻意而準確地在CNTs中調控缺陷,可以按需求調節其機械性能。本文介紹了一種利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡TEM)中準確調節CNTs缺陷的技術。這種技術不僅調節準確、過程可逆并且還具有較高重復性,對基于CNTs的諧振器器件研發意義重大。相關研究成果由廈門大學及日本NIMS研究所聯合完成,發表在《Nano Lett》上。

           澤攸科技的PicoFemto原位TEM-STM系統在該研究中穩定地完成了載樣、亞納米級操縱、施加高頻交變電場以及脈沖電流的工作。

        原位TEM-STM系統
        研究者在TEM中,利用電子束輻照,將CNT的一端焊接在原位樣品桿的W針尖位置。通過在金電極和W針尖之間施加交變電流,使CNT發生諧振。

        原位TEM-STM應用實時原位觀測
             研究者利用納米操縱單元分別將CNT兩端與W針和金電極接觸,并通過脈沖電流和電子束輻照實現對CNT中缺陷的調制。此過程可以通過TEM圖像實時原位觀測。

        原位TEM-STM系統觀測

         通過在原位探針桿上安置力學模塊,研究者進一步研究了調制后的CNT的機械性能。

         

              想了解更多實驗細節及研究案例可發送郵件至support@zeptools.com詳詢。公眾號也會不斷更新各種產品的研究案例。

         


         

        公司原位TEM/SEM系列核心產品:

        1. 原位TEM/SEM亞納米操縱手

        2. 原位TEM/SEM電學測量系統

        3. 原位TEM/SEM力學-電學測量系統

        4. 原位TEM/SEM光學-光電測量系統

        5. 原位TEM/SEM加熱/電化學/電學/液體多功能測量系統

        6. 原位TEM/SEM流動式電化學測量系統

        7. 原位TEM/SEM流動式氣體測量系統

         

        新品介紹:

        1.單傾TEM三樣品桿(一次載入三樣品,測試效率倍增)

        2.雙傾TEM三樣品桿

        3.樣品桿預抽泵組(實驗前預抽,實驗后保存)

         

        安徽澤攸科技有限公司

        ZepTools Technology Co., Ltd.

        郵箱:support@zeptools.com

        主頁:www.banmianliu.com
        電話:18817557412(微信同號)
        澤攸微信二微碼


         



        TAG:
        TEM 透射電鏡樣品桿 原位樣品桿 原位TEM TEM樣品桿價格 樣品桿廠家 雙傾樣品桿

        作者:小攸


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